用于 AM 旋转器的 X 射线 CT 监测数据和缺陷
作者:小编
更新时间:2024-12-16
点击数:
EOSTATE Exposure OT 监控系统可用于识别缺陷。这项研究表明,工艺不稳定性可以反映为极端热点,而监控系统可以检测到这些热点。
本白皮书提供以下信息
- 在 EOS M 290 上加工 EOS 镍合金 IN625 时,评估EOSTATE Exposure OT 和 EOSTATE 熔池监测系统记录熔池能量密度变化的灵敏度
- 基于工序内监控数据和 CT 扫描的缺陷相关性
- 在批量生产过程中应用过程监控来保证质量